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如何選用合適的探針,進行有效探測的關鍵因素之一是進行測頭探針的選擇,是否能夠觸測到特徵並在接觸時保證一定的精度是 使用者應當重點考慮的事情。

探針是三次元量測儀的一部分,主要用來觸測工件表面,使得測頭的機械裝置移位,產生信號觸發並採集一個測量資料。 一般的探針都是由一個杆和紅寶石球組成,通過需要測量的特徵,您可以判斷應當使用探針的類型和尺寸。

一、探針主要的術語:

A. 測針直徑

B. 總長:從探針後固定面到測尖中心的長度

C. 杆直徑

D. 有效工作長度 (EWL) :從測尖中心到與一般測量特徵發生障礙的探針點的距離

二、選擇探針的原則:

- 探針長度盡可能短:探針彎曲或偏斜越大,精度將越低。因此在測量時,盡可能採用短探針。

- 連接點最少:每次將探針與加長杆連接在一起時,您就額外引入了新的潛在彎曲和變形點。 因此 ,在應用過程中,盡可能減少連接的數目。

- 測球直徑大:使得球/杆的空隙最大,這樣減少了由於“晃動”而誤觸發的可能。 測球直徑較大可削弱被測表面未拋光對精度造成的影響

三、 常見探針材質:

最常見的測球的材料是紅寶石,因為紅寶石是目前已知的最堅硬的材料之一。紅寶石球具有良好的表面光潔度,並具有 優異的耐壓強度和抗碰撞性。只有極少的情況不適宜採用紅寶石球,例如在高強度下對鋁材料製成的工件進行掃描, 主要原因在於材料吸引,基於一個稱為“膠著磨損”的現象會在觸測過程中發生,在這種情況下,較好的選擇是氮化矽。